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荧光光谱测厚仪性能优势操作技术是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

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